お知らせ
「外観検査アルゴリズムコンテスト2014」優秀賞受賞
2014年12月4日
株式会社リコー
株式会社リコーは、公益社団法人 精密工学会 画像応用技術専門委員会主催の「外観検査アルゴリズムコンテスト2014」において優秀賞を受賞しました。
「外観検査アルゴリズムコンテスト」は、精密工学会の画像応用技術専門委員会が、画像を用いた外観検査技術の発展を図る活動の一環で2001年から実施しているものです。今年度は、製造工程における欠陥品および異常箇所を検出するソフトウエアの精度を競いました。
このたび、「リコー技術研究所」(神奈川県横浜市)の笠原 亮介、田中 拓哉、澤木 太郎、山田 佑が開発したプログラムが高い正答率を出したことから優秀賞をいただきました。
リコーは、少ないサンプル画像でも高い精度で対象物の異常を検出する技術を開発いたしました。今回コンテストに応募したプログラムは、この技術を製造分野における外観検査に適用したものです。今後、産業分野への応用が期待されます。
根据12394年所需的各区内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地内地283；【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】、【查看2014年】
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